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NI 161-0348-00 | 自动化测试平台老旧 NI 测控系统抢修备件

原价为:¥8,767.00。当前价格为:¥6,787.00。

  • 型号: 161-0348-00
  • 品牌: National Instruments(NI 美国国家仪器)
  • 系列: PXI / CompactDAQ 测试测量硬件平台
  • 核心功能: 可编程双向数字 I/O 模块,用于高速数字信号采集与逻辑输出
  • 产品类型: DAQ 数字输入输出板卡
  • 关键规格: 双向数字通道;兼容 TTL/24V 数字电平;适配 LabVIEW 开发环境
分类: SKU: NI 161-0348-00
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描述

关键技术规格

参数项 参数信息
完整部件号 161-0348-00
模块类型 双向数字 I/O(DIO)模块
信号电平 TTL 兼容,支持最高 30 VDC 数字信号
单通道驱动电流 最大 25 mA
硬件架构 内置上拉电阻,通道可软件配置输入 / 输出模式
配套机箱 支持 PXI 机箱、CompactDAQ 系列机箱
软件适配 LabVIEW、NI-DAQmx 驱动、Python/C 语言开发接口
工作温度 -40 ℃~+85 ℃
安装形式 PXI 标准 3U 插卡式 / CompactDAQ 槽位模块
原厂状态 早期停产(EOL),原厂不再生产供货
备注 网络第三方商家参数存在不一致,所有技术参数最终以原厂硬件手册为准

产品深度介绍

NI 161-0348-00 是 NI 早期推出的工业级数字 I/O 采集模块,面向自动化测试台、设备状态监测、半实物仿真系统开发。 模块通道支持软件切换输入或输出模式,既可以读取传感器、限位开关数字状态,也可以输出电平信号驱动外部继电器、指示灯。 整套系统依托 NI-DAQmx 驱动,搭配 LabVIEW 快速搭建自动化测试流程,大量用于汽车零部件测试、军工测试平台、产线功能检测设备。 该型号上市时间较早,原厂官方手册难以检索,采购备件务必核对实物外形、接口定义,避免外形相近但功能不兼容的替代硬件。

 

应用场景与行业案例

大量实验室、生产线仍保留多年前搭建的 NI 自动化测试台,整套设备改造预算高,优先选择同型号备件维持运行。 典型应用场景:

  1. 汽车零部件测试台:继电器、传感器耐久测试,开关信号时序采集
  2. 半导体设备:工装夹具到位信号、气动阀门逻辑信号监测
  3. 科研实验室:半实物仿真、控制回路快速原型测试
  4. 通用自动化产线:设备联锁信号采集、测试序列触发输出

案例:南方某汽车零部件实验室抢修 实验室一套电磁阀耐久测试台采用 NI 机箱搭配 161-0348-00 采集开关反馈信号,测试程序无法读取部分通道信号。 排查确认模块内部通道电路损坏;整套测试台定制程序开发周期长,短期内无法迁移至新型 NI 模块。 选用经过完整通道测试的 161-0348-00 备件,替换后安装 NI 官方驱动,加载原有 LabVIEW 程序,全部通道信号采集正常,测试台恢复连续运行。